芯片加固解決方案
2021-09-17
本平台覆蓋線性/蓋革模式APD器件、MOSFET、BJT、電阻、電容等各種類型器件的(de)常規建模,低溫建模以(yǐ)及抗輻射建模。基于(yú)該平台用戶可以(yǐ)快速生成對應的(de)器件模型,精确反應器件在(zài)不(bù)同條件下的(de)特性,以(yǐ)輔助電路設計。
模塊組成:
MeQLab模型提取軟件,用于(yú)線性/蓋革模式APD提參建模,噪聲模型以(yǐ)及低溫環境的(de)提參建模
RadEx總計量模型提取軟件,用于(yú)線性/蓋革模式APD總劑量效應的(de)器件提參建模。
模型提取解決方案,包含光電器件及噪聲模型提取方案,抗輻照模型提取方案,低溫模型提取方案。
優勢:
靈活的(de)構建線性/蓋革模式APD器件物理等效宏模型,能夠快速高效的(de)進行器件提參建模。
定制針對低溫器件二次建模流程,能夠幫助客戶改進器件在(zài)低溫條件下的(de)模型精度,同時(shí)保證器件在(zài)其它狀态下的(de)特性。
内嵌噪聲模型提取解決方案,支持有源和(hé / huò)無源器件低頻噪聲建模,并有效評估噪聲模型對電路特性的(de)影響。
内建基于(yú)物理的(de)輻射效應模型,能夠很好地(dì / de)反映總劑量效應對器件特性的(de)影響,輻射效應器件模型驗證模塊保證了(le/liǎo)輻射器件模型物理特性的(de)準确性,從而(ér)有力保證了(le/liǎo)輻射電路結合該模型電路仿真的(de)可靠性;
強大(dà)的(de)優化器,在(zài)多目标多參數時(shí)能夠快速準确的(de)得到(dào)最佳結果
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