1.     功能介紹

Ø  能夠根據用戶提供的(de)輻照前後的(de)器件特性變化，電流随電壓關系曲線，自動完成總計量模型提取。

Ø  能夠支持MOS器件的(de)多種Spice模型的(de)抗輻照模型提取，用戶的(de)商用MOS模型可以(yǐ)是(shì)基于(yú)Bsim3，Bsim4，PSP，BsimSOI，HISIM等多種格式的(de)MOS緊湊模型。

Ø  能夠提供從測試芯片設計，器件測量，模型提取到(dào)模型驗證的(de)完整器件建模解決方案，以(yǐ)及從單管提取到(dào)完整的(de)庫建模的(de)解決方案。抗

Ø  能夠對于(yú)建立的(de)模型可以(yǐ)進行模型在(zài)不(bù)同器件物理尺寸條件下合理性驗證，并且能夠針對典型的(de)電路進行輻照特性分析。

2.     系統特點

            該項目根據用戶的(de)實際需求，提供軟件+服務的(de)方面，量身爲(wéi / wèi)用戶打造解決方案。